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    首页 > 产品展示 > 老化插座

    老化插座

    低成本,高性能老化测试标准插座

    老化插座:

          28 family Size 28x38mm

          3S family Size 38x48mm

          55 family Size 55x65mm

    适用产品尺寸:

          0.35mm(19x19 contact max)

          0.40mm(16x16 contact max)

          0.50mm(10x10 contact max)

          0.65mm(32x32 contact max)

          BGA/QFN(LGA)

    联系我们
    产品介绍

    FTD标准老化系列插座。采用注塑与加工相结合的结构,具有良好的使用寿命和可靠性同时又较低客户的采购成本。

    产品特点

    -适用Pogo PIN作为接触部件

    -支持高频芯片测试

    -很好的热传导性能与可靠性

    -出色的接触电阻和电流承受能力

    封装类型

    ● 球阵列封装s:BGA, LGA, WLCSP, others – 350 µm pitch and up

    ● 引脚类封装: QFP, SO, others – 350 µm pitch and up

    ● 无引脚封装: QFN, others – 350 µm pitch and up


    机械性能

    ● 产品引脚间距: 0.4mm 及以上

    ● 探针弹力: 15g -40g

    ● 测试行程:0.3mm -0.65mm

    可靠性

    ● 探针使用寿命:200K

    ● 测试插座使用寿命: 5000小时

    ● 清洁频率:50K


    使用材料

    ● socket材料: 工程塑料

    ● 弹簧探针头材料: 合金 

    ● 弹簧材料: 弹簧钢


    电性能

    ● 接触电阻:100mΩ

    ● 电流承载能力:1.0A 持续电流

    ● 介电强度能力 : AC100V rms 1 min

    ● 绝缘电阻能力 : 1000MΩ min 


    使用环境

    ● 温度范围: -55°C - 150°C

    在线留言

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    电话:+86-0512-6957 2000

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